納米粒度儀及Zeta電位儀國(guó)產(chǎn)廠家

簡(jiǎn)要描述：BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年新推出的表征納米體系特性的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。

產(chǎn)品型號(hào)：BeNano 180 Zeta Max
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-12-26
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納米粒度及Zeta電位分析儀

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BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年新推出的表征納米體系特性的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測(cè)技術(shù)，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta電位，高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析質(zhì)量控制用途。

納米粒度儀及Zeta電位儀國(guó)產(chǎn)廠家

基本性能指標(biāo)

1、粒徑檢測(cè)(動(dòng)態(tài)光散射法)

粒徑范圍	0.3 nm - 15 μm*
樣品量	最小3μL，常規(guī)1ml（可訂制其它容量）*
檢測(cè)角度	173°+90°+11.2°（可對(duì)應(yīng)高濃度粒度和低濃度粒度）
樣品濃度	≤40%（W/V）*
粒徑算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

2、Zate電位測(cè)試

Zeta范圍	無實(shí)際限制
原理	相位分析光散射PALS
電泳遷移率范圍	> ±20 μ.cm/V.s
電導(dǎo)率范圍	0 - ≥270 mS/cm *
Zeta測(cè)試粒徑范圍	1 nm – >120 μm *

3、沉降法粒度測(cè)試

粒徑范圍	1 μm - 50 μm *
檢測(cè)角度	0°（PD檢測(cè)器）
樣品量	1 – 3 ml

4、分子量測(cè)試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da *

5、微流變測(cè)試

測(cè)試能力

均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃俊?fù)數(shù)粘度

6、趨勢(shì)測(cè)試

溫度趨勢(shì)	粒度與Zeta電位隨溫度變化趨勢(shì)，自動(dòng)檢測(cè)溫度轉(zhuǎn)變點(diǎn)Tm
時(shí)間趨勢(shì)	粒度與Zeta電位隨時(shí)間的變化趨勢(shì)
pH值趨勢(shì)	粒度與Zeta電位隨pH值的變化趨勢(shì) *

7、濃度檢測(cè)

檢測(cè)方法	LEDLS
測(cè)試能力	體積分?jǐn)?shù)和數(shù)量濃度

8、折射率測(cè)試

折射率范圍與精度	1.2 - 1.6，液體，精度優(yōu)于0.1%
檢測(cè)方法	楔形池樣品折射法（無需示蹤粒子）
檢測(cè)角度	0°（CMOS檢測(cè)器）
樣品量	380 μL – 1 ml

9、系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍	-15°C - 120°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮?dú)?/span>
激光器	高性能固體激光器，波長(zhǎng)671nm（不同波長(zhǎng)激光器可選）
相關(guān)器	快、中、慢多模式，最快25 ns采樣，最多 4000通道，10¹¹動(dòng)態(tài)線性范圍
檢測(cè)器	APD+PD+CMOS
光強(qiáng)控制	0.0001% -100%，自動(dòng)或手動(dòng)控制
* 依賴于樣品和選件

檢測(cè)參數(shù)

動(dòng)態(tài)光散射

●流體力學(xué)尺寸 D_h

●分布系數(shù) PD.I

●擴(kuò)散系數(shù) D

●顆粒間相互作用力因子 k_d

●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布

●計(jì)算分子量

●溶液粘度和折射率

●流變學(xué)信息G*，G‘，G“，η*，J

電泳光散射

●Zeta電位及其分布

●帶電顆粒的電泳遷移率

透射

●透射濁度

● 顆粒物濃度

●液體折射率

●沉降法粒度和粒度分布測(cè)試

趨勢(shì)測(cè)試

● Zeta電位和粒徑的pH滴定

● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢(shì)測(cè)試

靜態(tài)光散射

● 絕對(duì)分子量Mn、Mw、Mz

● 分子量分布

● 第二維利系數(shù)A₂

選配件

●動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式

BeNano動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個(gè)分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離，依次流出。通過檢測(cè)每個(gè)流出組分的動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)和靜態(tài)光散射號(hào)，并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號(hào)，得到高分辨率且不依賴于計(jì)算模型的粒徑分布、分子量分布信息。

納米粒度儀及Zeta電位儀國(guó)產(chǎn)廠家

●BAT-1自動(dòng)滴定儀

樣品的Zeta電位和粒徑對(duì)于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性，尤其是環(huán)境pH，不但影響Zeta電位的大小，而且會(huì)影響顆粒體系的帶電符號(hào)。BAT-1自動(dòng)滴定儀與BeNano系列連用，內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力，可以對(duì)于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動(dòng)化的酸堿滴定測(cè)試，具有測(cè)試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄，避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。

納米粒度儀及Zeta電位儀國(guó)產(chǎn)廠家

●BeScan穩(wěn)定性分析儀

BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備，通過檢測(cè)得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)I_US，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化，從而極大的節(jié)約檢測(cè)時(shí)間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過定量的I_US和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

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